扫描电镜分析导致样品破坏的原因及缓解办法
使用扫描电镜(SEM)观察样品时,随着时间增加,电子束可以改变或破坏样品。样品破坏是一种不利的影响,因为它可能会改变,甚至毁坏想要观察的细节,从而改变电镜检测结果和结论。
Leica DCM8徕卡显微镜,激光共聚焦显微镜
2020年01月08日使用岛津电子万能试验机EZ-LX 50N,配合岛津专用50N气动线材缠绕夹具,对金属切割钢丝进行拉伸试验的示例。该试验主要检测金属钢丝的破断力和延伸率等,可为相关企业的产品开发、品质控制提供准确数据。
2023年04月24日Leica DM2700 M LED照明正置材料显微镜。Leica DM2700 M为适用于明场、暗场、微分干涉、偏光以及荧光用途的多功能立式显微系统。
2017年01月04日三丰表面粗糙度测量仪SURFTEST SJ-500/SV-2100样本产品资料
2020年01月19日徕卡金相显微镜主要用于材料分析,金相组织观察,与同济大学合作的显微镜型号是DM6M为正置式三目镜,配了徕卡品牌DFC450型的500万物理像素摄像头…
2016年08月27日BAHENS仪器微信公众号