用于日常材料检验

使用Visoria M材料显微镜，您可以检查金属、合金、电子和机械组件、复合材料、玻璃、

陶瓷等材料的微观结构。与Enersight软件平台结合使用时，您还可以执行截面或层厚分析。

使用编码的功能、优化的光强设置及其他显微镜功能可以提高您的工作流程效率。此外，显

微镜的人体工学设计让您能更加舒适地工作，最大限度减少劳损。

使用数字式显微镜，实现无目镜工作

直接在平板电脑上查看图像，以舒适放松的姿势工作。

快速呈现和记录工作步骤，与同事轻松讨论图像结果。

无需电脑，节省工作台空间。

由Enersight软件平台驱动

使用Visoria M材料显微镜和Enersight软件平台可以让您的工作流程简化且更有效率。它提供一个直观的界面，帮助您无缝地比较、测量和共享数据。

重要优势：

使用层厚测量功能确定涂层或层的厚度。

使用手动载物台的XY拼接功能，以更大的视野和更高的分辨率观察样品。

使用景深扩展(EDOF)功能采集清晰的样品图像。

使用快速调节亮度功能，以理想的照明和相机设置采集图像。

通过自动校正照明不均造成的阴影来优化图像。

合并不同观察方式（如明场和暗场）获得的多幅图像，从而更好地了解样品。

显微镜观察方式及其应用领域

使用Visoria M材料显微镜，以各种观察方式高效观察和分析零部件及材料样品。

在电子、金属和聚合物行业以及材料科学领域，您可以使用明场、暗场、DIC、偏光和斜照明方式来呈现表面结构。

Visoria M可用于执行与质量控制、故障分析和研发相关的各类日常检测任务。

 · 明场(BF)

使用入射光明场观察方式对样品特征进行测量。

 · 暗场(DF)

利用入射光暗场观察方式检测表面结构和污染。

 · 微分干涉(DIC)

利用DIC方式检查样品表面以观察起伏差异。

电子

在电子行业质量控制中，使用Visoria M材料显微镜可以提升日常检测流程。利用多种有效的观察方式，包括明场、暗场、斜照明、微分干涉对比(DIC)和偏光。在检查印刷电路板(PCB)、微芯片和微电子组件时，这些观察方式让您能够清晰地看到细节。使用Visoria M可以检测产品样品上的微小缺陷和不规则之处，帮助您简化检测流程，确保符合高质量标准。

材料和金属

Visoria M可帮助您对材料和金属相关应用进行日常检测。它能够检测和定位特定的样品结构及缺陷。在宏观结构的检测和记录方面，0. 7倍的宏观物镜可帮助您查看样品概况。轻松切换不同的放大倍率和观察方式，呈现样品上的重要结构，以便进行质量控制和故障分析。

复合材料

使用Visoria M，您可以充分挖掘复合材料的潜力，此类材料以其优异的强度和轻质特性而著称。这款显微镜专为日常检测和质量控制而设计。Visoria M提供多种观察方式，有助于在检测过程中呈现复杂的细节和细微的缺陷，确保材料符合您的质量标准。