扫描电子显微镜 (SEM) 是科研工作，工厂质量控制的重要设备。在这些场景中，用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些操作有助于提高工作

效率。 JSM-IT510新增的“简单 SEM”功能，用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”，

从而更有效、更轻松地完成 SEM 观察。

 简单 SEM

只需选择目标视野

“简单 SEM”支持日常工作

样品：电子元件  
加速电压：15 kV，放大倍数：×50（上部） ×1,000（下部），信号： BE

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