JSM-IT510 新增的“简单 SEM”功能，用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”，从而更有效、更轻松地完成 SEM 观察。

日本电子扫描电子显微镜JASM-6200(ASEM)是和在其上方设置的光学显微镜构成,能够在大气压下观察样品.

FEI扫描电镜Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR（高分辨率）SEM 系列的二代产品.在半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料准确测量所需.

日常使用的SEM，好用！ 该设备分辨率可达1nm、探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。

扫描电子显微镜 (SEM) 是科研工作，工厂质量控制的重要设备，能够满足SEM 观察以及微小区域是元素分析。

JSM-IT100 提供的直观操作，同样也适用于EDS分析，利用 EDS 导航器能顺利地进行定量分析、定性分析和元素面分布，只需很少的步骤就可执行丰富的分析功能，新手也能轻松驾驭。

JSM-IT300扫描电子显微镜经过改进照射系统、真空系统和信号处理系统，不仅能观察高质量的图像，还能利用触控屏和快速样品台进行高通量的直观操作。

台式扫描电子显微镜日本电子JCM-6000Plus。按下装置的分析按钮，就能开启 EDS 视窗。EDS 能支持定性 / 定量分析、点分析和元素面分析（确认元素分布）。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7200F标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。