电子光学系统的高质量成像

JSM-IT300 提供高画质图像，能满足您对 W-SEM 机型的期待，镜筒设计和扫描系统使得不导电样品的图像质量有所提高

二次电子像

通过高真空二次电子像观察到的蝴蝶鳞粉。可以用更高的分辨率观察微观结构。

背散射电子像

通过在低加速电压下观察背散射电子成份像，能观察到每个碳化钨颗粒的通道衬度。

扫描系统使低加速电压下的图像质量更高

帧累积法能制止荷电效应，对易充电的样品可以轻松地进行观察。

扫描方式能减轻样品的带电，不易受到样品漂移的影响，即使是容易充电的样品，能在高倍率下的得到高清的图像质量

EDS 集成化 EDS 一触式分析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是世界上一家集开发、制造和销售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在观察和分析过程中，轻触屏幕即可进行分析。

一触式分析

在 SEM 的操作界面上，只需轻触图标就可以执行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一体化集成，提高了通量和易用性。

基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一触即成。

在 SEM 的 GUI 上，轻触屏幕即可执行基本的分析操作。