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日本电子电镜

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产品参数

产品编号: 日本电子场发射扫描电镜JSM-7800FPRIME所属品牌: 日本电子
产品型号: JSM-7800FPRIME 额定功率:按实际方案提供
所属类别: 日本电子电镜所属用途: 显微观察
应用领域: 所有工业领域
产品特性: 日本电子场发射扫描电镜JSM-7800PRIME采用新开发的高分辨率GBSH模式,达到了世界高水准的分辨率。浸没式肖特基Plus电子枪,将大探针电流从200nA提高到了500nA。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7800FPRIME

 

 

浸没式肖特基Plus场发射电子枪

 

 

电子枪和低像差聚光镜的优化组合,实现了高的亮度,能有效采集电子枪中发射

的电子,即使在低加速电压下也能获得几pA~数10 nA 探针电流,保持至小的物镜

光阑就可以进行纳米尺寸的高分辨率观察、快速元素面分布及EBSD分析。

 

用GBSH(Gentle Beam Super High Resolution)观察样品表面

 

 

以前的GB※模式经过改进后,可以对样品施加高的电压,这样在低加速电压下也能获得高分辨率的图像。从样品的浅表面观察到纳米尺寸的元素分析,GBSH能根据各种不同的应用选择加速电压。

※Gentle Beam(GB) 通过给样品加以偏压(GB),对入射电子有减速、对释放出的电子有加速作用。

 

 

通过Gentle Beam (即柔和光束GB模

式) 观察样品的浅表面

 

 

给样品加以偏压(GB),对入射电子有减速、对释放出的电子有加速作用。即使入射

电子束到达样品时的能量很低,也可以获得高分辨率、高信噪比的图像。如果利用

能施加高偏压的GB模式,用数十电子伏能量的入射电子束,就可以进行更高分辨

率的观察。

 

通过多个检测器获取样品的所有信息

 

 

JSM-7800F配有四种检测器:高位检测器(UED) 、高位二次电子检测器(USD)、背散射电子检测器(BED)和低位检测器(LED)。UED过滤器的电压不同,二次电子和背散射电子的数量会改变,因此可以选择电子的能量,USD检测被过滤器弹回的低能量电子,BED通过检测低角度的背散射电子,能清楚地观察通道衬度。利用LED的照明效果能够获得含有形貌信息的、富有立体感的图像。

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