全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）
品名：全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）
产品型号：S4 T-STAR
品牌：Bruker/布鲁克
原产地：德国
S4 T-STAR® 是一种多功能工具，用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射线光谱仪.用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜，
制样简单，无需消解，而ICP则需要完全溶解的液体样品。
- TXRF 光谱仪 S4 T-STAR® 提供
- TXRF 运营成本极低，无需气体、冷却介质或复杂的实验室基础设施。
- 自动校准功能，基本无需后期维护
- 优化后的测试系统支持工业级24h不间断测试。
- Bruker多样化的样品托盘和工具为用户提供了更多选择，可加快样品制备速度，降低样品污染风险。
参数配置：
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检测极限 |
1Pg |
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样品容量
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90个 支持多用户进行操作，24h连续不间断测样，测试数据准确可靠 |
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处理时间
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20min 无需消解，无需校准，可在现场直接分析结果 |
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自动QC校准
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S4 T-STAR 可实现QC 校准 QA 标准样品可对设备测试稳定性和灵敏度定期自动检查。 |
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超大进样量 |
S4 T-STAR 提供高达 90 个样品的单次进样量。 支持自动批量处理，实现夜间高效测量 专为多用户操作而设计，可装载多达 10 个样品托盘 仪器运行中可完成测量样品托盘更换 |
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测试样品质量控制
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使用 CCD 摄像机可用于确认样品测试是否异常 测试图像会自动存档，以便后续查看 |
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Easyload™样品台 |
提供适用于不同样品类型的专用托盘 插入托盘时自动识别 |
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载样玻片托盘储存方案 |
托盘可以存放于可多个叠放的托盘专用保存盒中 能够有效防止载样玻片被污染 制样台中央独特的标记方便准确滴落样品液滴 |
参考标准：
GB/T24578-2024半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱仪
GB/T42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱仪
GB/T40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）测定硅片表面元素污染
