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应用领域
全部所有工业领域钢铁&有色金属机械制造电子电器半导体器件新能源橡胶塑料胶黏剂涂料陶瓷玻璃轻工纺织食品医疗
所属用途
全部基本物性成分分析显微观察力学机械性能表面力学性能耐候性能无损检查热分析尺寸测量

己选条件：

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全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）
S4 T-STAR® 是一种多功能工具，用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射线光谱仪.用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜，制样简单，无需消解，而ICP则需要完全溶解的液体样品。
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