日本电子场发射透射电镜JEM-F200
外观设计精炼
精炼的外型
为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的
机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。
7*12小时服务热线（业务咨询）：400-099-6011
7*12小时服务热线（业务咨询）：400-099-6011
精炼的外型
为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的
机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。
现在的电需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。
JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描
功能之上，增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System”即成像系统的电子束扫
描功能（选配）。
JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），
能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。
插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能插入或拔出。
JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。
JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）。
凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小。
JEM-F200是一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低
到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以小的能耗保持着电镜的至佳条件。该
设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。
微信搜索 :Bahens02
电话：021-33587030 021-33587020 021-34631757
