日本电子场发射扫描电镜JSM-7800F配备了混合式物镜(SHL)，在保持的方便的可操作性的同时，实现了低加速电压下的高分辨率。能量过滤器位于高位检测器 (UED)的正下方，可以选择能量。即使在低加速电压下，也能够准确地选择二次电子和背散射电子。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F照明系统采用High Power Optics（高性能电子光学系统），可以进行高分辨率、高精度的快速元素分析。配合Gentle Beam （GB模式即柔和光束），可以用几百电子伏的入射电子束观察样品的浅表面。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7500F电子光学系统将场发射电子枪和半浸没式（semi-in-lens）物镜组合为一体，冷场发射电子枪在低加速电压下也能够将电子束聚焦得很细，与通用型扫描电镜一样，对大样品也可以进行高分辨率的观察。

日本电子透射电镜JEM-ARM300F采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm（300kV,高分辨率靴、使用STEM球差校正器时）。

日本电子场发射透射电镜JEM-F200JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。

日本电子高压透射电子显微镜JEM-ARM1000被世界各国的研究所、大学等机构用于生物医学、材料开发等科学的研究。

日本电子原子分辨分析型透射电镜JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜，高分辨率STEM-HAADF像分辨率（78pm）。

日本电子场发射透射电镜JEM-3200FS实现了高稳定、高性能的控制系统。可以进行编程操作和附件的集中控制。可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。

日本电子高通量电子显微镜JEM-2800具有电镜观测所需要操作的各种自动功能（调整图像的衬度/亮度、样品高度（Z）、晶体取向、聚焦及象散），这些功能可以不受操作者熟练程度影响，获取重现性好的数据。